Воскресенье
24.11.2024, 22:30
Приветствую Вас Гость | RSS
Главная Регистрация Вход
Меню сайта

Мини-чат

Наш опрос
Оцените мой сайт
Всего ответов: 1

Статистика

Онлайн всего: 1
Гостей: 1
Пользователей: 0

Форма входа

Главная » 2012 » Ноябрь » 22
2.3 Температура и надежность динамичного ОЗУ (DRAM) 2.3.1 Освещение проблемы и исходные данные В этом разделе рассматривается влияние температуры на надежность DRAM, которое является одним из наиболее часто заменяемых аппаратных компонентов в дата-центрах и одной из самых распространенных аппаратных причин отказа узлов [30, 31].
Просмотров: 339 | Добавил: hosellthe | Дата: 22.11.2012

Поиск

Календарь
«  Ноябрь 2012  »
ПнВтСрЧтПтСбВс
   1234
567891011
12131415161718
19202122232425
2627282930

Архив записей

Друзья сайта


Copyright MyCorp © 2024
Создать бесплатный сайт с uCoz