Статистика |
Онлайн всего: 1 Гостей: 1 Пользователей: 0 |
|
Главная » 2012 » Ноябрь » 22
2.3 Температура и надежность динамичного ОЗУ (DRAM)
2.3.1 Освещение проблемы и исходные данные
В этом разделе рассматривается влияние температуры на надежность DRAM, которое является одним из наиболее часто заменяемых аппаратных компонентов в дата-центрах и одной из самых распространенных аппаратных причин отказа узлов [30, 31].
Просмотров:
339
|
Добавил:
hosellthe
|
Дата:
22.11.2012
| |
|
|
|