Статистика |
Онлайн всего: 1 Гостей: 1 Пользователей: 0 |
|
Главная » 2014 » Июнь » 25
2.3 Температура и надежность динамичного ОЗУ (DRAM)
2.3.1 Освещение проблемы и исходные данные
В этом разделе рассматривается влияние температуры на надежность DRAM, которое является одним из наиболее часто заменяемых аппаратных компонентов в дата-центрах и одной из самых распространенных аппаратных причин отказа узлов [30, 31].
Просмотров:
327
|
Добавил:
hosellthe
|
Дата:
25.06.2014
| |
|
|
|