Статистика |
Онлайн всего: 1 Гостей: 1 Пользователей: 0 |
|
Главная » 2014 » Июнь » 25
2.3 Температура и надежность динамичного ОЗУ (DRAM)
2.3.1 Освещение проблемы и исходные данные
В этом разделе рассматривается влияние температуры на надежность DRAM, которое является одним из наиболее часто заменяемых аппаратных компонентов в дата-центрах и одной из самых распространенных аппаратных причин отказа узлов [30, 31].
Просмотров:
334
|
Добавил:
hosellthe
|
Дата:
25.06.2014
| |
|
|
Календарь |
« Июнь 2014 » |
Пн |
Вт |
Ср |
Чт |
Пт |
Сб |
Вс |
| | | | | | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | 10 | 11 | 12 | 13 | 14 | 15 | 16 | 17 | 18 | 19 | 20 | 21 | 22 | 23 | 24 | 25 | 26 | 27 | 28 | 29 | 30 | |
|